ПАРИРОВАНИЕ КРАТНЫХ ОТКАЗОВ ИЗБЫТОЧНЫМИ ТРАНЗИСТОРНЫМИ СТРУКТУРАМИ
- Авторы: Тюрин С.Ф1, Каменских А.Н1
- Учреждения:
- Пермский национальный исследовательский политехнический университет
- Выпуск: № 2 (2014)
- Страницы: 127-135
- Раздел: Статьи
- URL: https://ered.pstu.ru/index.php/elinf/article/view/2774
- DOI: https://doi.org/10.15593/вестник%20пермского%20национального%20исследовательского%20политехнического%20университета.%20электротехника,%20информационные%20технологии,%20системы%20управления.v0i2.2774
- Цитировать
Аннотация
Рассматривается метод повышения надежности цифровых устройств за счет применения элементов с избыточным базисом. Специфическая структура самосинхронных цифровых устройств приводит к тому, что традиционные методы обеспечения отказоустойчивости, такие как мажоритирование, не способны демонстрировать те же высокие показатели надежности при умеренной сложности. В то же время использование элементов с избыточными базисами позволяет в ряде случаев достигать высокой надежности проекта при меньших аппаратных затратах, чем в случае с мажоритированием. До этого не проводилось исследования, какие избыточные транзисторные структуры оптимальнее, то есть они считались равнозначными. Анализируются различные варианты реализации избыточных транзисторных структур для парирования кратных отказов (сбоев). Даются рекомендации по применению избыточных транзисторных структур для парирования однократных отказов (сбоев). Предлагается комплексный показатель, позволяющий сравнивать различные варианты отказоустойчивых схем.
Об авторах
С. Ф Тюрин
Пермский национальный исследовательский политехнический университет
Email: tyurinsergfeo@yandex.ru
А. Н Каменских
Пермский национальный исследовательский политехнический университет
Email: kmt@dom.raid.ru
Список литературы
- Самосинхронный вычислитель для высоконадежных применений / Ю.А. Степченков [и др.] // Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем (МЭС): сб. тр. всерос. науч.-техн. конф. / Институт проблем проектирования в микроэлектронике РАН. - М., 2010. - № 1.
- Библиотека самосинхронных элементов для технологии БМК / Ю.А. Степченков, Ю.Г. Дьяченко, Ф.И. Гринфельд, Н.В. Морозов, Л.П. Плеханов, А.Н. Денисов, О.П. Филимоненко, Ю.П. Фомин // Проблемы разработки перспективных микроэлектронных систем: сб. науч. тр. / под общ. ред. А.Л. Стемпковского; ИППМ РАН. - М., 2006. - С. 259-264.
- Tyurin, S.F. Retention of functional completeness of Boolean functions under «failures» of the arguments // Automation and Remote Control. - 1999. - 60 (9 PART 2). - P. 1360-1367.
- Kamenskih, A.N., Tyurin, S.F. Application of redundant basis elements to increase self-timedcircuits reliability // Proceedings of the 2014 IEEE North West Russia Young Researchers in Electrical and Electronic Engineering Conference. - ElConRusNW, 2014.
- Тюрин С.Ф., Каменских А.Н. Самосинхронный функционально-полный толерантный элемент // Вестник Ижевского государственного технического университета. - 2014. - № 1. - С. 116-120.
- Каменских А.Н., Тюрин С.Ф. Анализ отказоустойчивой самосинхронной реализации двоичного сумматора // Вестник Пермского национального исследовательского университета. Электротехника, информационные технологии, системы управления. - 2014. - № 1(9). - С. 25-39.
- Глебов А. Л. SP-BDD модель цифровых КМОП-схем и ее приложения в оптимизации и моделировании // Информационные технологии. - 1997. - № 10.
- Donald C. Mayer, Ronald C. Lacoe. Designing IntegratedCircuits to Withstand Space Radiation. - 2003. Vol. 4, № 2. Crosslink [Электронный ресурс]. - URL: http://www.aero.org/publications/crosslink/ summer2003/06.html (дата обращения: 20.04.2014).
Статистика
Просмотры
Аннотация - 54
PDF (Russian) - 24
Ссылки
- Ссылки не определены.